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原文传递一种氮氧传感器芯片老化测试装置

专利名称：	一种氮氧传感器芯片老化测试装置
摘要：	本实用新型公开了一种氮氧传感器芯片老化测试装置，属于氮氧传感器芯片测试技术领域。一种氮氧传感器芯片老化测试装置，包括底部带有开口槽的底座及设置在底座顶部上方的检测盘，所述检测盘的底部设有安装在底座顶部及开口槽内顶壁之间的转动机构；本实用新型通过驱动部及转杆组成的驱动部，是为了用于配合检测盘在检测机构中检测探头的下方进行旋转，使检测盘呈圆周分布放置槽中对应放置的氮氧传感器芯片，能够便于配合检测机构中检测探头进行检测，当放置槽中检测后的氮氧传感器芯片在转动到电动推杆位置时，电动推杆可推动连接件将放置槽中检测的氮氧传感器芯片进行顶出，使得放置槽中检测好的氮氧传感器芯片具有便于取出的特点。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	浙江昕宸科技有限公司
发明人：	夏鹏;孟超
专利状态：	有效
申请日期：	2023-06-05T00:00:00+0800
发布日期：	2023-11-28T00:00:00+0800
申请号：	CN202321408563.5
公开号：	CN220104992U
代理机构：	深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	蒋小燕
分类号：	G01N33/00;G01R31/28;G01R1/04;G;G01;G01N;G01R;G01N33;G01R31;G01R1;G01N33/00;G01R31/28;G01R1/04
申请人地址：	313000 浙江省湖州市吴兴区高新区东源智能产业园12幢101-102号
主权项：	1.一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，包括底部带有开口槽的底座(1)及设置在底座(1)顶部上方的检测盘(2)，所述检测盘(2)的底部设有安装在底座(1)顶部及开口槽内顶壁之间的转动机构(3)，所述检测盘(2)的顶部设有呈圆周等距分布的放置槽(4)，所述放置槽(4)的内底壁与检测盘(2)的底部之间设有可弹性伸缩的连接件(5)，所述放置槽(4)的内底壁中心连通有顶料孔(6)，所述底座(1)的顶部设有可沿顶料孔(6)推动的电动推杆(7)，所述放置槽(4)的顶部上方设有对应且可上下调节的检测机构(8)。 2.根据权利要求1所述的一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，所述转动机构(3)包括安装在底座(1)底部位于开口槽内底壁上的驱动部(31)，所述驱动部(31)的输出端固定有延伸至底座(1)顶部且与检测盘(2)底部连接的转杆(32)。 3.根据权利要求2所述的一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，所述驱动部(31)的底部与底座(1)的底部留有间隙空间。 4.根据权利要求2所述的一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，所述转杆(32)位于检测盘(2)与底座(1)之间对应的中线轴线上。 5.根据权利要求1所述的一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，所述连接件(5)包括贴合在放置槽(4)内底壁上的放置板(51)，所述放置板(51)的底部固定有两个对称且延伸至检测盘(2)底部下方的连接杆(52)，所述连接杆(52)位于检测盘(2)底部对应的一端固定有圆形块(53)，所述圆形块(53)的顶部与检测盘(2)的底部之间固定有套设在连接杆(52)表面上的限位弹簧(54)。 6.根据权利要求5所述的一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，所述放置板(51)的表面直径等于放置槽(4)的内壁直径。 7.根据权利要求1所述的一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，所述放置槽(4)至少有四个，且放置槽(4)呈方形结构。 8.根据权利要求1所述的一种氮氧传感器芯片老化测试装置，其特征在于，所述检测机构(8)包括固定在底座(1)顶部的L型支架(81)，所述L型支架(81)的顶部安装有测试仪(82)，所述测试仪(82)的表面通过导线电连有检测探头(83)，所述检测探头(83)的顶部与L型支架(81)的内顶壁之间安装有气缸(84)。
所属类别：	实用新型