专利名称: | 一种闪烁探测器余辉矫正方法 |
摘要: | 一种闪烁探测器余辉矫正方法,可以有效减少甚至消除闪烁体余辉在扫描图像中形成的伪影,可以使扫描图像真实地反映被检查物体的实际投影。包括如下步骤:首先设定在测量本底数据和测量信号数据时具有相同的积分时间;在无射线时测量探测器的初始本底数据的第1测量步骤;在出射线时刻测量探测器的信号数据的第2测量步骤;在停止出射线期间测量探测器的本底数据的第3测量步骤;在出射线时刻测量探测器的信号数据的第4测量步骤;重复上述第3测量步骤和第4测量步骤直到扫描完成;每次出射线时测量的探测器的信号数据减去之前最近一次的探测器本底数据,将其做为矫正后的探测器信号数据用于后续的图像数据处理。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 北京;11 |
申请人: | 同方威视技术股份有限公司 |
发明人: | 赵书清;李元景;李鹏宇;张清军 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2009-06-30T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN200910088619.1 |
公开号: | CN101937093A |
代理机构: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人: | 刘宗杰;刘春元 |
分类号: | G01T1/20(2006.01)I |
申请人地址: | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
主权项: | 一种探测器余辉的矫正方法,包括如下步骤:首先设定在测量本底数据和测量信号数据时具有相同的积分时间;在无射线时测量探测器的初始本底数据的第1测量步骤;在出射线时刻测量探测器的信号数据的第2测量步骤;在停止出射线期间测量探测器的本底数据的第3测量步骤;在出射线时刻测量探测器的信号数据的第4测量步骤;重复上述第3测量步骤和第4测量步骤直到扫描完成;每次出射线时测量的探测器的信号数据减去之前最近一次的探测器本底数据,将其做为矫正后的探测器信号数据用于后续的图像数据处理。 |
所属类别: | 发明专利 |