专利名称: |
一种痕量物质串级质谱分析方法 |
摘要: |
一种痕量物质串级质谱分析方法,该方法采用离子阱,或四极杆和离子阱组合的质量分析器。利用在高压射频上耦合在频谱中除去多频率窗口的低压辅助交流信号,四极杆可以实现多目标母离子的同时选择性传输,离子阱可以实现多目标母离子的同时选择性隔离;离子阱束缚住筛选出的离子后,利用多频低压辅助交流信号配合缓冲气完成多母离子同时碎裂;然后离子阱上耦合单频低压辅助交流信号同时扫描射频电压实现对应碎片离子的共振激发质谱分析;再与每个母离子对应的串级质谱数据库进行对比,从而解析出每个目标母离子对应的串级质谱图。本发明可以通过一次进样就实现多个离子的同时串级质谱分析,且无噪声离子干扰,在痕量样品分析领域有良好的应用前景。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
清华大学 |
发明人: |
唐飞;霍新明;王晓浩;李琦 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810372938.4 |
公开号: |
CN108593754A |
代理机构: |
北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 |
代理人: |
邸更岩 |
分类号: |
G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/62 |
申请人地址: |
100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |
主权项: |
1.一种痕量物质串级质谱分析方法,其特征在于该方法采用离子阱质量分析器,依次包括以下步骤:1)在离子阱上施加固定的高压射频信号,使离子被束缚在离子阱中;2)在离子阱的高压射频信号上耦合第一种低压辅助交流信号,该低压辅助交流信号为含有在频谱中除去多个频率窗口范围的信号,使多个目标母离子被同时隔离留在离子阱内并以各自的世俗频率运动,而其他离子则被排除在离子阱之外或湮灭在离子阱电极上;3)在离子阱的高压射频信号上耦合第二种低压辅助交流信号,该低压辅助交流信号为含有各个母离子世俗频率分量的多频信号,使离子阱内的多个目标母离子同时共振激发,因共振激发而吸收能量的离子与离子阱内的缓冲气发生碰撞而碎裂,产生碎片离子;4)在离子阱的高压射频信号上耦合第三种低压辅助交流信号,该低压辅助交流信号只含有单一频率,同时扫描高压射频信号的幅值,使离子阱内的碎片离子因共振激发而扫描出离子阱,完成碎片离子质谱分析;5)将产生的碎片离子谱图与串级质谱数据库对比,提取出每个目标母离子对应的串级质谱谱图。 |
所属类别: |
发明专利 |