专利名称: |
一种精确测量聚焦超声换能器横向分辨率的方法 |
摘要: |
本发明提供一种精确测量聚焦超声换能器横向分辨率的方法,属于超声检测技术领域。该方法首先将不锈钢材料加工成立方体试块,试块棱边锐利无倒角;然后用待测聚焦超声换能器对试块棱边进行高精度C扫成像;再随机选择C扫图像中垂直于试块棱边的10条灰度值曲线V(x),对其平均后采用均值滤波方法对灰度值曲线进行平滑处理;对平滑后的灰度值曲线进行求导运算,得到灰度值变化率曲线 最后对灰度值变化率曲线采用‑6dB下降法计算聚焦超声换能器的横向分辨率。该方法提供了从实验上精确测量聚焦超声换能器横向分辨率的简便方法,直观显示了横向分辨率对C扫成像清晰度的影响。该方法对试块的制备要求较低,同一试块可适用于不同类型的轴对称换能器。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京科技大学 |
发明人: |
肖会芳;陈丹;安元卜 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810006549.X |
公开号: |
CN108398489A |
代理机构: |
北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 |
代理人: |
张仲波 |
分类号: |
G01N29/30(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/30 |
申请人地址: |
100083 北京市海淀区学院路30号 |
主权项: |
1.一种精确测量聚焦超声换能器横向分辨率的方法,其特征在于:包括步骤如下:(1)将不锈钢材料加工成立方体试块;(2)用待测聚焦超声换能器对步骤(1)所制得的立方体试块棱边进行高精度C扫成像;(3)随机选择步骤(2)中C扫图像中垂直于试块棱边的10条灰度值曲线V(x),对其平均后采用均值滤波方法对灰度值曲线进行平滑处理;(4)对步骤(3)中平滑后的灰度值曲线进行求导运算,得到灰度值变化率曲线 (5)对步骤(4)中的灰度值变化率曲线采用‑6dB下降法计算,得到聚焦超声换能器的横向分辨率。 |
所属类别: |
发明专利 |