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一种防热瓦高温发射率测量试验装置及方法
| 专利名称： | 一种防热瓦高温发射率测量试验装置及方法 |
| 摘要： | 本发明提出一种防热瓦高温发射率测量试验装置及方法，包括防热瓦试件、光谱发射率测量系统、法向发射率测量系统、功率温度测量系统和处理单元。本发明实现了防热瓦高温发射率的测量，填补了国内在高温状态防热瓦发射率测量领域的空白，为实现更加准确的结构热防护设计和评估提供指导依据，具有很好的科学意义与工程应用前景。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京空天技术研究所 |
| 发明人： | 王飞;周丹;康宏琳;朱国祥;罗金玲 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710270842.2 |
| 公开号： | CN108303378A |
| 分类号： | G01N21/25(2006.01)I;G01N25/20(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N25;G01N21/25;G01N25/20 |
| 申请人地址： | 100074 北京市丰台区云岗北里40号 |
| 主权项： | 1.一种防热瓦高温发射率测量试验装置，其特征在于：包括防热瓦试件、光谱发射率测量系统、法向发射率测量系统、功率温度测量系统和处理单元；所述的光谱发射率测量系统包括光谱仪，光谱仪测量常温下防热瓦试件在0～λrmax波长的光谱发射率并送入处理单元，其中λrmax为热像仪工作波长范围的最大值；所述的法向发射率测量系统包括常温黑体炉、高温黑体炉和热像仪，防热瓦试件分别安装在常温黑体炉和高温黑体炉内，热像仪测量防热瓦试件在常温和高温下的辐射量并送入处理单元；所述的功率温度测量系统包括真空腔、温度采集系统、激光器和功率计，所述的防热瓦试件安装在真空腔内，所述的温度采集系统预埋在防热瓦试件加热一侧的表面，所述的激光器加热防热瓦试件，功率计和温度采集系统分别将激光功率和防热瓦试件表面温度送入处理单元；所述的处理单元对0～λrmax波长的光谱发射率、常温及高温下的辐射量、激光功率和防热瓦试件表面温度进行分析处理，得到防热瓦高温发射率。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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