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一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置
| 专利名称： | 一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置，包括压环部件、样品盘和样品架；所述样品盘表面高于所述样品架；所述压环部件与所述样品架配合以使待测量滤膜绷紧在所述样品盘表面。本发明的有益效果如下：本发明能够迅速使滤膜表面平整，实现X光全反射，因而能够使用TXRF技术直接快速分析滤膜载大气颗粒物的元素成分，分析时间从以前的转膜制样分析所需的三个小时缩短为10分钟，大大提高了效率，降低了工作强度和分析成本，并且因为制样和分析都是非破坏性的，可以使珍贵的滤膜载大气颗粒物样品得以保存。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国原子能科学研究院 |
| 发明人： | 崔大庆;郑维明;康海英 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810912942.5 |
| 公开号： | CN108709901A |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 102413 北京市房山区新镇三强路1号院 |
| 主权项： | 1.一种用于全反射X光荧光光谱仪直接测量滤膜载大气颗粒的压环装置，其特征在于：包括压环部件、样品盘和样品架；所述样品盘表面高于所述样品架；所述压环部件与所述样品架配合以使待测量滤膜绷紧在所述样品盘表面。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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