专利名称: |
一种多层组织体光学参数的检测系统及其检测方法 |
摘要: |
本发明公开了一种多层组织体光学参数的检测系统及其检测方法。本发明的检测系统包括:光源、反射光接收器、透射光接收器、处理器和输出设备;本发明测量得到多层组织体的反射率和透射率,根据MCML算法输出仿真得到的透射率、反射率以及光子传播路径,根据测量得到的反射率和透射率得到光学参数的梯度,通过循环迭代最终得到光学参数;本发明有效地解算组织体光学参数,该算法所需的输入量少,且便于获得,扩大了解算组织体参数的使用场景,使得家庭和个人测量成为可能。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京大学 |
发明人: |
王平;黄安鹏;刘伟杰 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201710727432.6 |
公开号: |
CN107677644A |
代理机构: |
北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 |
代理人: |
王岩 |
分类号: |
G01N21/47(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I;G;A;G01;A61;G01N;A61B;G01N21;A61B5;G01N21/47;G01N21/59;A61B5/00 |
申请人地址: |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |
主权项: |
一种本地端系统的多层组织体光学参数的检测系统,其特征在于,所述检测系统包括:光源、反射光接收器、透射光接收器、处理器和输出设备;其中,所述光源与反射光接收器位于待测的多层组织体的同侧;所述光源与透射光接收器分别位于待测的多层组织体的对侧;反射光接收器和透射光接收器分别连接至处理器;所述处理器连接至输出设备;光源发出激发光照射至待测的多层组织体,反射光接收器和透射光接收器分别接收反射光和透射光并计算出反射光和透射光的光强,然后将反射光和透射光的光强传输至处理器,处理器分别得到多层组织体的反射率和透射率;处理器初始化各组织层的厚度,并随机初始化各组织层的光学参数的数值,根据MCML算法输出仿真得到的透射率、反射率以及光子传播路径,根据测量得到的反射率和透射率得到光学参数的梯度,通过循环迭代最终得到光学参数,并从输出设备输出。 |
所属类别: |
发明专利 |