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X荧光光谱仪的样品预检方法及装置
| 专利名称： | X荧光光谱仪的样品预检方法及装置 |
| 摘要： | 本发明公开了的一种X荧光光谱仪的样品预检方法及装置。其中，X荧光光谱仪的样品预检方法，包括：获取图像采集区域内放置有待检测的钢板镀层样品的样品盒内部的样品表面图像；确定样品表面图像的灰度变化图像，并将其作为待判定图像；根据标定识别区域和待判定图像，确定样品盒内放置的所述钢板镀层样品的姿态是否合格。X荧光光谱仪的样品预检装置，包括样品盒台架、图像采集装置和控制系统。本发明提供一种X荧光光谱仪的样品预检方法及装置，能够自动准确地检测X荧光光谱仪的样品盒内的钢板镀层样品的姿态，提高钢板镀层样品分析检测时数据的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 宝山钢铁股份有限公司 |
| 发明人： | 王平 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201710515306.4 |
| 公开号： | CN109164123A |
| 代理机构： | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 |
| 代理人： | 刘锋;吴崇 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 201900 上海市宝山区富锦路885号 |
| 主权项： | 1.一种X荧光光谱仪的样品预检方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、确定图像采集区域，获取所述图像采集区域内放置有待检测的钢板镀层样品的样品盒内部的样品表面图像；S2、根据对所述样品表面图像的边缘检测的处理结果，确定所述样品表面图像的灰度变化图像，并将其作为待判定图像；S3、获取标定识别区域，根据所述标定识别区域和所述待判定图像，确定所述样品盒内放置的所述钢板镀层样品的姿态是否合格。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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