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一种材料高温方向光谱发射率测试装置
| 专利名称： | 一种材料高温方向光谱发射率测试装置 |
| 摘要： | 本发明涉及材料热物性测量技术领域，尤其涉及材料高温方向光谱发射率测试装置。该测试装置使用电磁感应加热系统对待测件进行加热，通过测温光路系统实时测试温度，通过辐射测量光路系统测试辐射能量，通过旋转部调整辐射测量光路系统的相对待测件的角度，不但实现了待测件不同温度、不同角度、不同波段的光谱发射率连续测量，而且还简单化了结构，减少了空间的占用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 航天特种材料及工艺技术研究所 |
| 发明人： | 周金帅;王阳;高增华;汤龙生;裴雨辰;赵英民 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811435312.X |
| 公开号： | CN109297912A |
| 代理机构： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 |
| 代理人： | 李亚东 |
| 分类号： | G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 100074 北京市丰台区云岗北里40号院 |
| 主权项： | 1.一种材料高温方向光谱发射率测试装置，其特征在于，包括：工作台，所述工作台上设有用于放置待测件的支撑部；电磁感应加热系统，用于为所述待测件加热；测温光路系统，采集所述待测件的辐射并传导至测温装置；辐射测量光路系统，所述辐射测量光路系统通过旋转部安装在所述工作台，采集所述待测件的辐射并转换为平行光传导至傅里叶光谱仪，所述旋转台能够带动所述辐射测量光路系统相对所述待测件连续转动，并保持所述辐射测量光路系统的采集点位置不变，以采集所述待测件不同角度的辐射；所述测温光路系统和所述辐射测量光路系统采集点重合；计算机，所述计算机分别与所述测温装置、傅里叶光谱仪连接，记录所述待测件的温度数据和所述傅里叶光谱仪采集的光谱特性曲线。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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