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X射线荧光光谱仪的内部装置保护结构
| 专利名称： | X射线荧光光谱仪的内部装置保护结构 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种X射线荧光光谱仪的内部装置保护结构，设置于X射线荧光光谱仪的样品放置口的内侧，包括上部开口、下部密封的保护罩体，所述保护罩体的上部开口与测试样品位置对应，所述保护罩体的上部开口下方被界定为异物接收腔，所述异物接收腔的两侧分别设置有X射线入口和X射线荧光检测口，在保护罩体底部设置有朝着上部开口方向拍摄的拍摄装置。在本实用新型中，当测试样不慎掉入或流入测试口，由于保护罩体的存在，测试样可进入保护罩体的异物接收腔，有效防止了测试样对X射线荧光光谱仪的内部件造成的影响和对测试的干扰。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海新漫传感技术研究发展有限公司 |
| 发明人： | 程偲;陈滨;张加强;罗美娜 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201820980063.1 |
| 公开号： | CN208459307U |
| 代理机构： | 上海申浩律师事务所 31280 |
| 代理人： | 陈开山 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 201821 上海市嘉定区嘉定工业区叶城路1411号3幢A区 |
| 主权项： | 1.X射线荧光光谱仪的内部装置保护结构，设置于X射线荧光光谱仪的样品放置口的内侧，包括一上部开口、下部密封的保护罩体，所述保护罩体的上部开口与测试样品位置对应，所述保护罩体的上部开口下方被界定为异物接收腔，所述异物接收腔的两侧分别设置有X射线入口和X射线荧光检测口，在保护罩体底部设置有朝着上部开口方向拍摄的拍摄装置。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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