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一种测定待测样品太阳能体吸收率的方法
| 专利名称： | 一种测定待测样品太阳能体吸收率的方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种测定待测样品太阳能体吸收率的方法，包括：步骤S1：采用光谱仪测量太阳的热辐射谱；步骤S2：采用吸收光谱装置测量待测样品的吸收谱；步骤S3：采用所述太阳的热辐射谱作为加权函数计算所述待测样品的吸收谱的平均值，得到待测样品的体吸收率Av。本发明的测定待测样品太阳能体吸收率的方法基于测量辐射源的辐射光谱和吸收物质的吸收谱来计算待测样品太阳能体吸收率，该方法能通过上述两种谱线准确覆盖太阳能热辐射波段，可以得到50000‑3000cm‑1波段范围内太阳光的相对能量，可以根据需求测定待测样品对太阳能热辐射的体吸收率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 发明人： | 苏涛;刘一阳;刘洪涛 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811013878.3 |
| 公开号： | CN109358007A |
| 代理机构： | 上海智信专利代理有限公司 31002 |
| 代理人： | 邓琪 |
| 分类号： | G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号 |
| 主权项： | 1.一种测定待测样品太阳能体吸收率的方法，其特征在于，包括：步骤S1：采用光谱仪测量太阳的热辐射谱；步骤S2：采用吸收光谱装置测量待测样品的吸收谱；步骤S3：采用所述太阳的热辐射谱作为加权函数计算所述待测样品的吸收谱的平均值，得到待测样品的体吸收率Av。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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