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使用对电气刺激的双分子层响应的测量进行非破坏性双分子层监测
| 专利名称： | 使用对电气刺激的双分子层响应的测量进行非破坏性双分子层监测 |
| 摘要： | 公开了一种检测在基于纳米孔的测序芯片的单元中形成的脂质双分子层的方法。积分电容器与脂质隔膜耦合，其中所述脂质隔膜位于工作电极和反电极之间。向反电极施加交流（AC）电压。由模数转换器（ADC）周期性地对跨积分电容器的电压进行采样。确定响应于AC电压的变化的跨所述积分电容器的采样电压的变化。基于响应于AC电压的变化的所确定的跨积分电容器的采样电压的变化来检测脂质隔膜是否包括脂质双分子层。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 瑞士;CH |
| 申请人： | 豪夫迈·罗氏有限公司 |
| 发明人： | R.J.A.陈;A.瓦巴;K.G.阿利亚多;K.尤梅达;W.尼尔森;J.H.罗 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201780033496.4 |
| 公开号： | CN109416353A |
| 代理机构： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
| 代理人： | 黄涛;申屠伟进 |
| 分类号： | G01N33/487(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N33 |
| 申请人地址： | 瑞士巴塞尔 |
| 主权项： | 1.一种检测在基于纳米孔的测序芯片的单元中形成的脂质双分子层的方法，包括：将脂质隔膜与积分电容器耦合，其中所述脂质隔膜位于工作电极和反电极之间；向反电极施加交流（AC）电压；由模数转换器（ADC）周期性地对跨积分电容器的电压进行采样；确定响应于AC电压的变化的跨所述积分电容器的采样电压的变化；以及基于响应于AC电压的变化的所确定的跨所述积分电容器的采样电压的变化来检测脂质隔膜包括脂质双分子层。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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