原文传递
一种自动分析扫描式劳厄衍射图谱中衍射峰峰形的方法
| 专利名称： | 一种自动分析扫描式劳厄衍射图谱中衍射峰峰形的方法 |
| 摘要： | 本公开揭示了一种自动分析扫描式劳厄衍射图谱中衍射峰峰形的方法，包括：从来自同一次实验的所有扫描式劳厄衍射图谱中任选一张衍射图谱并使用二维中值滤波方法获得X射线荧光分布图谱并计算其上所有像素点的强度平均值；读取所述实验中的一张衍射图谱，计算所述衍射图谱上各像素点的强度平均值和所述衍射图谱去除荧光背景后的各像素点的强度值，获得去除荧光背景后的衍射图谱；寻找所述去除荧光背景后的衍射图谱上的衍射峰；分析寻找的衍射峰的峰形；判断所有需要分析的衍射图谱是否已经分析完成，若完成，则分析结束，否则重复执行步骤2‑4。本公开揭示了衍射图谱去除X射线荧光背景方法和寻峰操作方法，还揭示了新的衍射峰长轴计算方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西安交通大学 |
| 发明人： | 陈凯;寇嘉伟;朱文欣 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811245648.X |
| 公开号： | CN109507219A |
| 代理机构： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 |
| 代理人： | 覃婧婵 |
| 分类号： | G01N23/2055(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 710049 陕西省西安市咸宁西路28号 |
| 主权项： | 1.一种自动分析扫描式劳厄衍射图谱中衍射峰峰形的方法，包括以下步骤：S100：从来自同一实验的所有扫描式劳厄衍射图谱中任选一张衍射图谱I进行二维中值滤波，获得X射线荧光分布图谱If并计算所述X射线荧光分布图谱If上所有像素点的强度平均值Ifave；S200：读取所述实验中的一张衍射图谱，计算所述衍射图谱I上各像素点Iij的强度平均值Iave和所述衍射图谱I去除荧光背景后的各像素点Iij的强度值(Ire)ij，获得去除荧光背景后的衍射图谱Ire；S300：寻找所述去除荧光背景后的衍射图谱Ire上的衍射峰p；S400：分析步骤S300中寻找的衍射峰p的峰形；S500：判断所有需要分析的衍射图谱是否已经分析完成，若完成，则分析结束，否则重复执行步骤S200至步骤S400。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
