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原文传递基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法

专利名称：	基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法
摘要：	本发明涉及钛白粉应用性能检测技术，解决了现有基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法的统计结果准确性和科学性差的问题。技术方案概括为：基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法，包括通过扫描电子显微镜拍摄钛白粉粒子样本的照片；从照片中测量出预设个数的钛白粉粒子的长径；根据从照片中测量出的所有钛白粉粒子的长径，计算出钛白粉粒子的平均长径；根据计算出的钛白粉粒子的平均长径以及预设的钛白粉粒子的平均长径范围所对应的钛白粉粒子大小分布统计标准，统计该钛白粉粒子样本的钛白粉粒子大小分布。有益效果是：本发明对钛白粉粒子样本中的统计基数和统计标准进行了量化，最大限度的避免人为误差，提高了统计结果的准确性和科学性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	重庆;50
申请人：	攀钢集团重庆钛业有限公司
发明人：	周俊;柯良辉;徐庭敏;和柳;袁秀香
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-10T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-15T00:00:00+0800
申请号：	CN201910621114.0
公开号：	CN110333169A
代理机构：	成都虹桥专利事务所(普通合伙)
代理人：	李凌峰
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	404100 重庆市巴南区麻柳嘴镇梓桐路2号
主权项：	1.基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、通过扫描电子显微镜拍摄钛白粉粒子样本的照片；步骤二、从照片中测量出预设个数的钛白粉粒子的长径；步骤三、根据从照片中测量出的所有钛白粉粒子的长径，计算出钛白粉粒子的平均长径；步骤四、根据计算出的钛白粉粒子的平均长径以及预设的钛白粉粒子的平均长径范围所对应的钛白粉粒子大小分布统计标准，统计该钛白粉粒子样本的钛白粉粒子大小分布。 2.如权利要求1所述的基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法，其特征在于，所述预设个数大于或等于600。 3.如权利要求1所述的基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法，其特征在于，所述步骤四中，当钛白粉粒子的平均长径≥240nm时，所对应的钛白粉粒子大小分布统计标准采用：统计所述步骤二中测量的所有钛白粉粒子的长径分别在以下范围内的钛白粉粒子的数量；钛白粉粒子的长径＜150nm； 150nm≤钛白粉粒子的长径＜250nm； 250nm≤钛白粉粒子的长径＜350nm； 350nm≤钛白粉粒子的长径≤500nm；钛白粉粒子的长径＞500nm。 4.如权利要求1所述的基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法，其特征在于，所述步骤四中，当钛白粉粒子的平均长径＜240nm时，所对应的钛白粉粒子大小分布统计标准采用：统计所述步骤二中测量的所有钛白粉粒子的长径分别在以下范围内的钛白粉粒子的数量；钛白粉粒子的长径＜100nm； 100nm≤钛白粉粒子的长径＜200nm； 200nm≤钛白粉粒子的长径＜300nm； 300nm≤钛白粉粒子的长径≤500nm；钛白粉粒子的长径＞500nm。 5.如权利要求1所述的基于SEM的钛白粉粒子的大小分布统计方法，其特征在于，所述步骤二中对每个钛白粉粒子的长径进行测量时，测量数据精确到小数点后至少2位。
所属类别：	发明专利