详情

原文传递一种激光式芯块几何密度测量系统

专利名称：	一种激光式芯块几何密度测量系统
摘要：	本实用新型属于芯块几何密度测量技术领域，具体涉及一种激光式芯块几何密度测量系统。包括尺寸测量模块、质量测量模块、数据采集卡和主机。尺寸测量模块和质量测量模块分别通过数据通讯线将数据传送给数据采集卡，数据采集卡将数据上传至主机。尺寸测量模块包括直径激光发射器、直径激光接收器、高度激光发射器、高度激光接收器、4个支座、一个方形底座和测试平台。方形底座水平放置在测试平台上，4个支座水平放置在方形底座上。直径激光发射器和直径激光接收器分别水平设置在测试平台的两端。高度激光发射器和高度激光接收器分别设置在测试平台的上方和下方。本实用新型提供的技术方案测量精度高、检测效率高、结果可靠。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	内蒙古;15
申请人：	中核北方核燃料元件有限公司
发明人：	孙建宇;杜丹;王敏;石峰;李海涛;邬小光
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201822241514.2
公开号：	CN209525213U
代理机构：	核工业专利中心
代理人：	吕岩甲
分类号：	G01N9/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N9
申请人地址：	014035 内蒙古自治区包头市青山区456信箱科技处
主权项：	1.一种激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：包括尺寸测量模块、质量测量模块、数据采集卡和主机，尺寸测量模块和质量测量模块分别通过数据通讯线将数据传送给数据采集卡，数据采集卡将数据上传至主机。 2.如权利要求1所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述尺寸测量模块包括直径测头、高度测头、四个支座、方形底座(9)和测试平台(10)，其中四个支座包括A支座(1)、B支座(2)、C支座(3)和D支座(4)，方形底座(9)水平放置在测试平台(10)上，四个支座水平放置在方形底座(9)上，直径测头包括直径激光发射器(5)和直径激光接收器(6)，直径激光发射器(5)和直径激光接收器(6)分别水平设置在测试平台(10)的两端，高度测头包括高度激光发射器(7)和高度激光接收器(8)，高度激光发射器(7)和高度激光接收器(8)分别设置在测试平台(10)的上方和下方。 3.如权利要求2所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述直径激光发射器(5)、直径激光接收器(6)和方形底座(9)的底面中心在一条直线上，直径激光发射器(5)和直径激光接收器(6)分别在方形底座(9)的左右两侧。 4.如权利要求3所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述高度激光发射器(7)、高度激光接收器(8)和方形底座(9)的底面中心在一条直线上，高度激光发射器(7)和高度激光接收器(8)分别位于方形底座(9)的上下两侧。 5.如权利要求4所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述方形底座(9)位于直径激光发射器(5)和直径激光接收器(6)的正中位置，方形底座(9)位于高度激光发射器(7)和高度激光接收器(8)的正中位置。 6.如权利要求2-5中任一项所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述四个支座的形状一样，四个支座均是五棱柱，五棱柱的5个侧面均是矩形，四个支座水平放置在方形底座(9)上，五棱柱的底面朝前，A支座(1)和B支座(2)轴对称放置在方形底座(9)上，形成一个V形槽，V形槽的对称轴与水平面垂直，A支座(1)和B支座(2)左右间距3mm。 7.如权利要求6所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述C支座(3)和A支座(1)并排间隔放置在方形底座(9)上，前后间距为4mm，形成直径测量透光区，支座(4)和支座(2)并排间隔放置在方形底座(9)上，前后间距为4mm，C支座(3)和D支座(4)轴对称设置，形成一个V形槽，V形槽的对称轴与水平面垂直，C支座(3)和D支座(4)左右间距3mm。 8.如权利要求2所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述方形底座(9)在A支座(1)和B支座(2)的间隔位置设置有通孔，通孔由方形底座(9)的上表面贯穿到下表面。 9.如权利要求2所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述四个支座的材料均是不锈钢。 10.如权利要求1所述的激光式芯块几何密度测量系统，其特征在于：所述质量测量模块是具有数据通讯接口的精密天平，所述精密天平的精度为0.0001g。
所属类别：	实用新型