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原文传递基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法

专利名称：	基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法
摘要：	本申请提供的一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，获取所测自然积污绝缘子的高光谱图像，根据所述绝缘子表面光谱谱线图和所述绝缘子表面相机图像分别提取特征波段和绝缘子区域；通过将特征波段谱线进行积分求面积，获取各个位置点的谱线积分值；以此为依据获取整体的积分差值和积分最小值，判定绝缘子表面污秽整体情况是否存在较不均匀情况；通过获取各个位置点的积分差值和其差值在位置‑积分差值空间中的梯度；来判定该点附近的污秽分布是否较不均匀；克服了传统高光谱建库检测绝缘子表面污秽分布，样本需求高且覆盖有限，推广性差，受拍摄条件影响大等问题，为绝缘子表面污秽提供清洗提示，提高输电线路的安全性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	云南;53
申请人：	云南电网有限责任公司电力科学研究院
发明人：	李谦慧;文刚;郭裕钧;刘凯;刘毅杰;高国强;马御棠;马仪;张血琴;彭兆裕;颜冰;刘冲;周仿荣;潘浩
专利状态：	有效
申请日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201911025950.9
公开号：	CN110632092A
代理机构：	北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	逯长明;许伟群
分类号：	G01N21/94(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	650217 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
主权项：	1.一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，其特征在于，包括：获取待测绝缘子表面的高光谱图像，所述绝缘子表面的高光谱图像包括绝缘子表面光谱谱线图和绝缘子表面相机图像；根据所述绝缘子表面光谱谱线图和所述绝缘子表面相机图像分别提取特征波段和绝缘子区域；获取所述特征波段积分值最大值和最小值之间的积分差值；判断所述积分差值是否大于第一预设阈值；如果所述积分差值大于所述第一预设阈值，则判定所述绝缘子表面整体污秽不均匀；获取所述绝缘子区域各个位置点的梯度的模；判断所述位置点的梯度的模是否大于第二预设阈值；如果所述位置点的梯度的模大于所述第二预设阈值，则判定所述位置点污秽分布不均匀，并标记为污秽不均匀点；判断所述污秽不均匀点的数目是否大于第三预设阈值；如果所述污秽不均匀点的数目大于所述第三预设阈值，则判定所述绝缘子为需清洗绝缘子。 2.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，其特征在于，所述方法还包括：根据绝缘子表面相机图像获取各个位置点的位置信息；根据各个位置点的积分值最大值和最小值之间的积分差值指定各个位置点的颜色函数；将所述各个位置点的颜色函数赋给所述各个位置点的位置信息，得到可视化污秽不均匀含量分布图。 3.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，其特征在于，所述获取所述绝缘子区域各个位置点的梯度的模，包括：根据绝缘子表面相机图像获取各个位置点的位置信息；根据绝缘子表面相机图像获取各个位置点的积分值最大值和最小值之间的积分差值；根据所述位置信息和所述积分差值得到各个位置点的位置-积分差值二维空间；根据所述位置-积分差值二维空间求取各个位置点的梯度的模。 4.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，其特征在于，所述第一预设阈值用于表征绝缘子表面整体不均匀程度的临界值。 5.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，其特征在于，所述第二预设阈值用于表征绝缘子各位置点不均匀程度的临界值。 6.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，其特征在于，所述第三预设阈值用于表征所述污秽不均匀点数目的临界值。 7.根据权利要求1所述的基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，其特征在于，所述根据所述绝缘子表面光谱谱线图和所述绝缘子表面相机图像分别提取特征波段和绝缘子区域之前，所述方法还包括：对所述绝缘子表面光谱谱线图和所述绝缘子表面相机图像进行预处理。 8.根据权利要求7所述的基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，其特征在于，所述对所述绝缘子表面光谱谱线图和所述绝缘子表面相机图像进行预处理，包括：对所述绝缘子表面光谱谱线图的预处理包括：黑白校正、平滑、求导、归一化、多元散射校正、消除噪声数据以及光照对反射率的影响；对所述绝缘子表面相机图像的余出来包括：图像灰度化、图像增强、图像分割及去除噪音和背景。
所属类别：	发明专利