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原文传递单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法

专利名称：	单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法
摘要：	本发明公开了单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，属于超声波探伤领域，使用带有单晶直探头的超声波探伤仪对热轧扁平钢板进行探伤，通过比较第一次缺陷回波F1与第一次底面回波B1波峰的高度准确对钢板内部“不连续”进行定性，判断钢板内部是否存在“金属组织偏析带”缺陷。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	河北;13
申请人：	河北普阳钢铁有限公司
发明人：	岳土民;陈建超;王智聪;卢凤飞;刘明生
专利状态：	有效
申请日期：	2019-02-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910137915.X
公开号：	CN109781851A
代理机构：	石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙)
代理人：	张建
分类号：	G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	056305 河北省邯郸市武安市阳邑镇
主权项：	1.单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于：使用带有单晶直探头的超声波探伤仪对热轧扁平钢板进行探伤，通过比较第一次缺陷回波F1与第一次底面回波B1波峰的高度对该缺陷部位进行定性，判断缺陷是否为金属组织偏析带。 2.根据权利要求1所述的单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于：缺陷的判断需要同时满足以下条件， a，第一次缺陷回波F1与第一次底面回波B1同时存在，第一次缺陷回波F1的波高比第一次底面回波B1低，F1＜50% B1； b，第一次缺陷回波F1位于板厚约1/2处，单晶直探头任意移动时缺陷回波连续出现且缺陷回波的深度位置与波高基本无变化，缺陷区域呈面积状、带状或间断性条状分布； c，第一次缺陷回波F1波型的特点为独立、陡直。 3.根据权利要求2所述的单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于：选用A型脉冲反射式超声波探伤仪。 4.根据权利要求1所述的单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于：单晶直探头直径为20mm，热轧扁平钢板厚度为20mm以上。 5.根据权利要求2所述的单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于：发现缺陷后降低检测灵敏度，以看到第一次缺陷回波F1、第一次底面回波B1的波峰为宜。 6.根据权利要求2所述的单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于：第一次缺陷回波F1的高度大小随内部金属组织偏析带的厚度大小而定，F1=35-50% B1时，偏析带厚度可达到300-400微米；F1=15-35% B1时，偏析带厚度可达到150-250微米；F1＜15% B1时，偏析带厚度可达到20-100微米。 7.根据权利要求3所述的单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于：所述步骤a中用到波高比较装置，所述波高比较装置包括安装在A型脉冲反射式超声波探伤仪示波屏处的透明卡板（2），卡板（2）上对应示波屏侧边的位置通过滑槽连接一个水平的可以沿着示波屏上下移动的刻度尺（1），卡板（2）上设置有刻度线。 8.根据权利要求7所述的单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于：所述卡板（2）横截面为U型，卡板（2）两侧面卡在A型脉冲反射式超声波探伤仪侧面，卡板（2）的透明底面与A型脉冲反射式超声波探伤仪示波屏相对。 9.根据权利要求8所述的单晶直探头判断扁平金属板材内部组织偏析带缺陷的方法，其特征在于卡板（2）的使用方法包括以下步骤： 1）将卡板（2）卡在A型脉冲反射式超声波探伤仪上，使得A型脉冲反射式超声波探伤仪示波屏下边缘与卡板（2）的0刻度线相平齐，使用单晶直探头对热轧扁平钢板进行探伤； 2）A型脉冲反射式超声波探伤仪出现第一次缺陷回波F1和第一次底面回波B1后滑动刻度尺（1）至第一次底面回波B1波峰位置，读取刻度数值； 3）将刻度尺（1）移动至步骤2）中读取的刻度数值的一半的位置，判断第一次缺陷回波F1是否小于第一次底面回波B1波峰高度的一半。
所属类别：	发明专利