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原文传递利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法

专利名称：	利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法
摘要：	本发明公开了利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法，利用超声波探伤仪的双晶直探头对扁平金属板材进行检测，依据扁平金属板材内部存在缺陷的尺寸、种类及不同种类缺陷对超声波往复声压透射率的不同，通过观察示波屏上的图像，判断扁平金属板材内部缺陷是否为组织偏析带，本发明简单易操作，可对板材内部缺陷的严重程度进行有效评估，避免工件出现焊接开裂、层间撕裂等现象造成返工或报废。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	河北;13
申请人：	河北普阳钢铁有限公司
发明人：	岳土民;陈建超;王智聪;卢凤飞;刘明生
专利状态：	有效
申请日期：	2019-02-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910138479.8
公开号：	CN109781855A
代理机构：	石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙)
代理人：	张建
分类号：	G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	056305 河北省邯郸市武安市阳邑镇
主权项：	1.利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法，其特征在于：利用超声波探伤仪的双晶直探头对扁平金属板材进行检测，依据扁平金属板材内部存在缺陷的尺寸、种类及不同种类缺陷对超声波往复声压透射率的不同，通过观察示波屏上的图像，判断扁平金属板材内部缺陷是否为组织偏析带。 2.根据权利要求1所述的利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法，其特征在于：判断标准为： a、第一次缺陷波F1与第一次底波B1同时存在，且F1的波高＜B1的波高×2； b、第一次缺陷波F1位于板厚的1/2处； c、第一次缺陷波F1的波型独立、陡直。 3.根据权利要求2所述的利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法，其特征在于：方法步骤如下： A、前期准备：准备需要检测的扁平金属板材和超声波探伤仪，在超声波探伤仪上安装双晶直探头； B、调校仪器：对检定周期内的超声波探伤仪进行调校； C、检测：使用双晶直探头对扁平金属板材进行检测，找到缺陷后，观察示波屏上的图像； D、结果判断：示波屏上的图像同时满足判断标准中的三个条件时，则扁平金属板材内部缺陷为组织偏析带。 4.根据权利要求3所述的利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法，其特征在于：所述步骤A中扁平金属板材的厚度≥6mm，双晶直探头选用5PФ20F10型号的双晶直探头，超声波探伤仪选用A型脉冲反射式超声波探伤仪。 5.根据权利要求3所述的利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法，其特征在于：所述步骤C中必要时降低超声波探伤仪的检测灵敏度，使示波屏上能同时看到第一次缺陷波F1与第一次底波B1的波峰。 6.根据权利要求2所述的利用双晶直探头判断扁平金属板材组织偏析带的检测方法，其特征在于：所述判断标准条件b中双晶直探头任意移动时第一次缺陷波F1连续出现且深度位置基本无变化，缺陷区呈面积状、带状或间断性条状分布。
所属类别：	发明专利