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原文传递双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法

专利名称：	双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法
摘要：	本发明公开了一种双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法，涉及机械工程原材料超声波检测技术领域，包括选择安装5Pφ20F10的双晶直探头超声波探伤仪，找到缺陷位置后，观察超声波探伤仪的显示屏的图像，图像满足以下条件时，可判定该处缺陷为夹杂物群：缺陷波F与第一次底面回波B1同时存在，缺陷波F的波高不高于第一次底面回波B1的波高；缺陷波F位于板厚1/4处或3/4处；缺陷波F的波形为簇状，缺陷波F在仪器垂直声程上有多个波峰且波峰参差不齐。本发明能够准判断扁平金属板材中是否存在“夹杂物群”缺陷，从而明确知道被检板材内部缺陷的严重程度，进而减少对原材料及现有能源的损耗。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	河北;13
申请人：	河北普阳钢铁有限公司
发明人：	岳土民;陈建超;王智聪;卢凤飞;刘明生
专利状态：	有效
申请日期：	2019-02-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910138529.2
公开号：	CN109781856A
代理机构：	石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙)
代理人：	张建
分类号：	G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	056305 河北省邯郸市武安市阳邑镇
主权项：	1.双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法，其特征在于：选择安装5Pφ20F10的双晶直探头超声波探伤仪对扁平金属板材进行探伤，找到缺陷位置后，观察超声波探伤仪的显示屏的图像，图像满足以下条件时，可判定该处缺陷为夹杂物群：缺陷波F与第一次底面回波B1同时存在，缺陷波F的波高不高于第一次底面回波B1的波高；缺陷波F位于板厚1/4处或3/4处；缺陷波F的波形为簇状，缺陷波F在仪器垂直声程上有多个波峰且波峰参差不齐。 2.根据权利要求1所述的双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法，其特征在于：扁平金属板材厚度不小于6mm，超声波探伤仪选用A型脉冲反射式超声波探伤仪。 3.根据权利要求1所述的双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法，其特征在于：选用检定周期内的探伤仪进行调校仪器。 4.根据权利要求1所述的双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法，其特征在于：判断缺陷时将与显示屏尺寸相配合的校对透明板贴合在显示屏上判断是否满足夹杂物群缺陷的所有条件，校对透明板包括透明板面（1），透明板面（1）上设置有标明尺寸的横纵向不透明的尺寸线和对照波形。 5.根据权利要求3所述的双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法，其特征在于：所述透明板面（1）上绘制有不透明的第一次底面回波B1对照波形（5）、对照标线（7）和缺陷波F示意波形（6），对照标线（7）设置有两条，缺陷波F示意波形对照标线（7）位于第一次底面回波B1对照波形（5）与透明板面（1）侧边间距的1/4处和3/4的位置；缺陷波F示意波形（6）位于透明板面（1）的下底边，缺陷波F示意波形（6）的波高低于第一次底面回波B1对照波形（5）的波高，缺陷波F示意波形（6）的波形为簇状，缺陷波F示意波形（6）设置有两簇，每一簇缺陷波F示意波形（6）均是以对照标线（7）为对称轴左右对称的图形，缺陷波F示意波形（6）在透明板面（1）上有多个波峰且波峰参差不齐。 6.根据权利要求4所述的双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法，其特征在于：所述校对透明板还包括将透明板面（1）嵌套在内部的边框（2）、设置在边框（2）两侧的把手（3）以及固定连接在边框（2）上边缘的与显示屏上边缘相配合的按压在显示器上表面的搭钩（4）。
所属类别：	发明专利